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新瑞徳君(大学院生)がIEEE CEDA All Japan Joint Chapter SASIMI Young Researcher Awardを受賞

掲載日:2018/03/26

新瑞徳君(佐藤高史研)が、国際会議SASIMI2018での発表「Comparative Study of Delay Degradation Caused by NBTI Considering Stress Frequency Dependence」に対し、IEEE CEDA All Japan Joint Chapter SASIMI Young Researcher Awardを受賞しました。